MX8R微分干涉工業檢測顯微鏡
產品簡介:
MX8R三目明暗場微分干涉工業檢測顯微鏡配置了落射與透射照明系統、明暗場半復消金相物鏡、內置偏光觀察裝置,具有圖像清晰、襯度好,造型美觀,操作方便等特點,配備了高性能DIC組件,可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差,轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕新式表現出來,廣泛用于LCD導電粒子,精密磁盤表面劃痕檢測等領域
產品性能特點:
- 具有明場,暗場,偏光,DIC 觀察功能
- 采用8英寸大平臺設計,可適用于相應尺寸的晶圓或FPD檢測,電路封裝,電路基板,材料,鑄件金屬陶瓷部件,精密模具的檢測。