MX8R微分干涉工業檢測顯微鏡

MX8R三目明暗場微分干涉工業檢測顯微鏡配置了落射與透射照明系統、明暗場半復消金相物鏡、內置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，配備了高性能DIC組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕新式表現出來，廣泛用于LCD導電粒子，精密磁盤表面劃痕檢測等領域