正置金相顯微鏡和倒置金相顯微鏡具備相同的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，因為符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質的觀察。
正置金相顯微鏡在觀察時成像為正像，這對使用者的觀察與辨別帶來了極大的方便。除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。
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