金相顯微鏡的光路結構
SOPTOP ICX41M 采用全新設計的無限遠光學系統，可廣泛應用于鑄造、冶煉、熱處理的研究，原材料檢驗或材料處理分析等多種檢測的倒置顯微鏡。
IE200M倒置金相顯微鏡操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地質礦物分析、精密工程測量等領域。
XD30M倒置金相顯微鏡提供優越的圖像質量和穩固可靠的機械結構，操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析以及工廠實驗室材料檢測。
