裂像顯微鏡—MMS-ZFA 2010
MMS-ZFA 2010測量顯微鏡是我司獨立開發的，是具有裂像功能的一款新型顯微鏡。其以影像法測量原理為基礎，采用光學焦點位置檢測方式進行非接觸高低差測量。除了觀察測量點的表面狀態外，還能對高度、深度、高低差等進行精密測量。本儀器還具有明暗場，偏光的觀察功能，所以特別適合對極細微的間隙高低差、夾雜物、突起、細微劃痕進行觀察。
MMS-ZFA 2010測量顯微鏡是我司獨立開發的，是具有裂像功能的一款新型顯微鏡。其以影像法測量原理為基礎，采用光學焦點位置檢測方式進行非接觸高低差測量。除了觀察測量點的表面狀態外，還能對高度、深度、高低差等進行精密測量。本儀器還具有明暗場，偏光的觀察功能，所以特別適合對極細微的間隙高低差、夾雜物、突起、細微劃痕進行觀察。
Soptop MS 測量顯微鏡結合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測量儀的 X、Y、Z 軸表面尺寸測量功能，具備明暗場、微分干涉、偏光等多種觀察功能。可廣泛應用于半導體、PCB、LCD、手機產業鏈、光通訊、基礎電子、模具五金、醫療器械、汽車行業、計量行業等領域的檢測。